對(duì)直讀光譜儀射線強(qiáng)度有影響的因素是哪些呢？直讀光譜儀的定量分析是以熒光X射線的強(qiáng)度為依據(jù)的，影響光譜儀射線強(qiáng)度的因素會(huì)影響分析的準(zhǔn)確度，以下是主要兩大影響因素：
一、基體效應(yīng)
基體效應(yīng)包括吸收效應(yīng)及增強(qiáng)效應(yīng)。
吸收效應(yīng)包括基體對(duì)入射X射線的吸收及對(duì)熒光X射線的吸收。因?yàn)橛蒙渚€激發(fā)樣品時(shí)，不只是作用于樣品表面而且能穿透一定的厚度進(jìn)入樣品內(nèi)部，而且樣品內(nèi)部分析元素產(chǎn)生的熒光X射線，也必須穿過一定厚度的樣品才能射出。在穿透過程中，這兩種X射線都會(huì)因基體元素的吸收而使射線強(qiáng)度減弱，射線減弱會(huì)影響對(duì)分析元素的激發(fā)效率。
如果入射X射線使基體元素激發(fā)所產(chǎn)生的熒光X射線的波長(zhǎng)稍短于分析元素的吸收邊，它會(huì)使分析元素產(chǎn)生二次熒光X射線，從而使分析元素的熒光X射線強(qiáng)度增強(qiáng)，這就是基體的增強(qiáng)效應(yīng)。
如果吸收效應(yīng)占主導(dǎo)地位，則分析結(jié)果偏低，如果增強(qiáng)效應(yīng)占主導(dǎo)地位，則分析結(jié)果偏高。
二、不均勻效應(yīng)
不均勻效應(yīng)是指樣品顆粒大小不均勻及樣品表面光潔度對(duì)熒光X射線強(qiáng)度的影響。對(duì)于粉末樣品，大顆粒吸收效應(yīng)強(qiáng)，小顆粒吸收效應(yīng)弱，因此，要求顆粒粒度盡量小一些，以減少對(duì)X射線的吸收。測(cè)短波X射線時(shí)，要求粒度在250目以上，測(cè)量波長(zhǎng)大于0.2nm的長(zhǎng)波x射線時(shí)，則粒度要求在400目以上。
固體塊狀試樣一定要磨平拋光，粉末試樣要壓實(shí)并使表面平滑。粗糙表面會(huì)使熒光X射線的強(qiáng)度明顯下降。測(cè)量短波X射線時(shí)，光潔度在1005m左右，測(cè)量長(zhǎng)波X射線時(shí)，光潔度為20-50Mm。
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