三、前置放大器
前置放大器將檢測器輸出的微弱信號進(jìn)行放大、濾波、直流放大。該系統(tǒng)每部分的微小變化都將引起放大器的變化 J，zui易發(fā)生的問題主要有以下幾方面。
（1）調(diào)零電位器、增益調(diào)節(jié)電位器接觸不良。使用一段時間后將電位器左右旋轉(zhuǎn)幾下，確保接觸良好。
（2）號放大器性能下降。檢查時應(yīng)主要關(guān)注濾波電容，接地是否良好。
（3）四運放放大器放大倍數(shù)降低，造成后續(xù)分析結(jié)果偏低。
四、紅外線檢測器
紅外線檢測器是氣體分析儀的關(guān)鍵部件，通過紅外線輻射把光信號轉(zhuǎn)換成電信號，正常工作情況下應(yīng)保證環(huán)境溫度穩(wěn)定，避免干擾信號。易出現(xiàn)的情況是：
（1）器件老化靈敏度低，輸出信號噪聲大。
（2）器件損壞無輸出信號。
（3）器件焊點氧化、虛焊接觸不良，輸出信號不穩(wěn)定。
五、紅外光源
紅外光源發(fā)射的紅外輻射與光輻射功率成正比。光輻射功率變化直接影響到信號輸出大小的變化，這樣的變化將引起檢測器基線的變化，即紅外輻射有無或大小，檢測器基線將隨之反映出來。引起紅外光源輻射信號變化的原因有以下幾種：
（1）光源逐漸老化，光輻射減弱，信號輸出低。碳和硫檢測器的基線輸出值也會逐漸降低，當(dāng)?shù)陀谡７秶鷷r儀器將報警。
（2）光源加熱絲斷裂或脫焊，無信號輸出。測量光源加熱絲電阻值是否正確（正確值一般為5Q左右）。
（3）光源加熱絲虛焊及電源插頭氧化導(dǎo)致接觸不良。由于接觸電阻發(fā)生變化，信號輸出忽高忽低變化值特別大，這種情況往往被人們忽視。
六、A／D轉(zhuǎn)換板
電壓信號通過16轉(zhuǎn)1芯片進(jìn)行信號采集，再經(jīng)A／D芯片轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號并送人計算機(jī)進(jìn)行處理，這個過程易產(chǎn)生干擾信號，導(dǎo)致系統(tǒng)監(jiān)視窗口觀察工作條件、樣品檢測積分過程及計算受到影響，主要原因是：
（1）儀器接地不好，外界干擾信號，導(dǎo)致采集數(shù)據(jù)遺漏。
（2）A／D轉(zhuǎn)換板的器件老化質(zhì)量下降，造成干擾信號增加，數(shù)字信號紊亂。
（3）A／D轉(zhuǎn)換板與總線插槽接觸不良，導(dǎo)致采集數(shù)據(jù)丟失。
通過對不穩(wěn)定影響因素的分析，對電子器件老化、性能下降所帶來的信號輸出值不穩(wěn)定或無輸出，紋波大，輸出信號噪聲大，采集數(shù)據(jù)遺漏或丟失等一系列問題的解決及提高設(shè)備的利用率起到重要的作用。
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